Slika na naslovnici

High resolution focused ion beams : FIB and its applications : the physics of liquid metal ion sources and ion optics and their application to focused ion beam technology /

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Main Authors: Orloff, Jon. (Author), Utlaut, Mark. (Author), Swanson, Lynwood, 1934- (Author)
Format: Knjiga
Jezik:English
Izdano: New York : Kluwer Academic/Plenum Publishers, cop. 2003.
Teme:
Focused ion beams > Industrial applications.
Ion bombardment > Industrial applications.
strojništvo > ionski žarki > ionsko bombardiranje > površinska obdelava materiala > ionska optika > preiskava materiala
focused ion beams > FIB technology > materials research > ion optics
Online dostop:http://www.loc.gov/catdir/toc/fy036/2002028661.html
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!

Vzdrževanje sistema

Trenutno vzdržujemo knjižnični informacijski sistem.

Informacije o zalogi so trenutno nedostopne. Opravičujemo se za nevšečnosti in vas prosimo da nas ponovno kontaktirate:

it.ukm@um.si

Internet

http://www.loc.gov/catdir/toc/fy036/2002028661.html

Podobne knjige/članki