Device and testing procedure for determination of magnetic circuit quality : International application published under the Patent Cooperation Treaty (PCT), international publication no. WO 2013/048348 A1, date: 04. 04. 2013 : international application no. PCT/SI2011/000060, international filing date 27. 12. 2011 /
Shranjeno v:
Main Authors: | , , |
---|---|
Format: | Knjiga |
Jezik: | English |
Izdano: |
[Montreal :
World Intellectual Property Organization, International Bureau,
2013]
|
Teme: | |
Oznake: |
Označite
Brez oznak, prvi označite!
|
Vzdrževanje sistema
Trenutno vzdržujemo knjižnični informacijski sistem.
Informacije o zalogi so trenutno nedostopne. Opravičujemo se za nevšečnosti in vas prosimo da nas ponovno kontaktirate: