Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings /

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Korporativna značnica: SpringerLink (Online service).
Drugi avtorji: Yeung, Dit-Yan. (Editor), de Ridder, Dick. (Editor), Fred, Ana. (Editor), Kwok, James T. (Editor), Roli, Fabio. (Editor)
Format: eKnjiga
Jezik:English
Izdano: Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006.
Serija:Lecture Notes in Computer Science, 4109
Teme:
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!

Vzdrževanje sistema

Trenutno vzdržujemo knjižnični informacijski sistem.

Informacije o zalogi so trenutno nedostopne. Opravičujemo se za nevšečnosti in vas prosimo da nas ponovno kontaktirate:

it.ukm@um.si